第十二届国际测试技术研讨会顺利召开
为了更好地引导和推动我国测试技术及仪器领域的前沿研究及融合发展,为从事相关领域研究的专家、学者和工程师,以及相关企、事业单位提供交流的平台,由中国兵工学会主办、中国兵工学会测试技术专委会和中国高等教育学会仪器科学及测控技术专业委员会协办筹备召开了第十二届国际测试技术研讨会(The 12th International Symposium on Test and Measurement,ISTM 2019)。
本次大会于2019年8月24日-25日在山西太原隆重召开,大会邀请了英国曼彻斯特大学、日本大阪大学、英国肯特大学以及全国各个知名高校和科研院所共32家单位、百余名代表参加了本次会议。IEEE协会会士、英国肯特大学闫勇教授,中国辐射防护研究院戴雄新研究员,华中科技大学刘世元教授,中国科学院长春光学精密机械与物理研究所佟存柱研究员,日本大阪大学Yasuhiro Sugawara教授、Yan Jun Li教授,英国曼彻斯特大学客座研究员谢跃东博士围绕国际测试与测量技术最新研究动态进行特邀报告交流,并与清华大学欧阳证教授,上海交通大学崔大祥教授,天津大学曾周末教授等在内的国内外知名学者进行了充分的交流与探讨。
会议日程
本次会议促进了测试技术及其相关领域学术研究、成果转化等多方面的交流与合作,为推动我国测试技术研究与国际接轨,加快测试技术研究领域国内外的交流与合作起到了积极的作用。
薛晨阳教授主持
闫勇教授做“Smart Condition Monitoring and Instrumentation through Advanced Sensing and Digital Signal Processing”的报告
Yasuhiro Sugawara教授做“Separation of Atomic-Scale Spin Contrast on NiO(001) by Magnetic Resonance Force Microscopy (MRFM)”的报告
佟存柱研究员做“Mode Engineering of High Power Semiconductor Lasers”的报告
戴雄新教授做“Ultra-sensitive Determination of Actinides using Compact Accelerator Mass Spectrometry”的报告
Yan Jun Li教授做“Study of the charge state of adsorbed O adatoms on TiO2(110) surface by NC-AFM and KPFM at 78K”的报告
刘世元教授做“Tomographic Mueller-matrix scatterometry for nanostructure metrology: Principles and opportunities”的报告
谢跃东博士做“Permeability invariance phenomenon and measurement of electrical conductivity for ferrite metallic plates”的报告